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[반도체] 로직반도체와 DRAM의 기술방향과 이해

by 인라밸

2023.10.29 오후 21:48

본 글은 2022년 6월 7일 발행된 미래에셋증권의 반도체 리포트를 공부목적으로 정리 요약한 글입니다.

트랜지스터

  • 트랜지스터는 전자회로 내에 전기신호의 증폭과 스위칭을 담당하는 소자

  • BJT(접합형 트랜지스터), FET(전계효과 트랜지스터) 구분

  • FET는 게이트 전극에 전압을 건 뒤 채널의 전기장에 의해 전류를 제어하는 트랜지스터, 고밀도 집적에 유리한 구조, 현대 IC의 주류

MOSFET

  • 금속 산화막 반도체 전계효과 트랜지스터(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)의 약자로 FET의 일종

  • MOSFET은 N형 반도체나, P형 반도체 재료의 채널로 구성되어 있고, 재료에 따라서 NMOSFET, PMOSFET, 두 가지를 모두 가진 CMOSFET으로 구분

  • CMOS는 개별로 회로를 구성할 때 보다 소비전력 낮고, 회로 단순화

  • 대부분의 로직반도체는 CMOS 기반으로 회로 구성

좋은 CMOS 반도체 조건

  • 트랜지스터로 구현된 모든 회로는 입력신호와 출력신호 사이의 시간차이 존재

  • Delay가 크다는 것은 회로의 속도가 느리다는 것을 의미하며 이를 줄이는 것이 중요

  • 작게 만들면서 생산성 급격히 증가, 다만 Channel의 길이가 100nm에 이르러서 스케일링만으로 전류의 크기 개선할 수 없게 되어짐

  • 소자 성능을 개선하기 위한 방법들

  1. Uni axial strain을 이용한 Mobility 개선

  2. High-K Metal Gate를 적용해 Capacitance(정전용량)의 향상

  3. Fin FEt, GAAFET 등 소자의 구조 변경을 통한 성능 개선

High-K Gate

  • MOSFET의 스케일링 지속되며 Gate와 채널사이 산화막의 면적이 줄어들게 됨

  • 면적이 줄어드는 가운데 산화막의 Capatance(정전용량)을 줄이기 위해 산화막의 TOX를 줄여야 함

  • 결국 SiO2보다 유전율이 높은 HfO2로 유전막 변경

  • HfO2는 유전상수 20으로 High-K 물질

  • 이로 인해 Logic 반도체 공정에 ALD 도입

Matel Gate

  • 최초의 MOSFET은 100nm까지 Metal Gate를 사용했으나 Metal의 녹는점이 낮아 공정을 거듭하면서 녹아버리는 일 발생

  • 이러한 이슈를 제거하기 위해 High-K 유전막과 Metal Gate를 통칭해 HKMG구조라고 함

  • 인텔은 HKMG구조를 2007년 적용해 45nm기반 CPU 발표

FinFET

  • 2차원적인 스케일링이 거듭되면서 기존 트렌지스터 구조로는 SCE(Short Channel Effect)를 감당 불가

  • SCE : 채널간의 길이가 짧아지면서 이런저런 문제발생(제어불가)

  • 그로인해 채널의 3면을 감싸는 FinFET 구조 개발

  • 핀펫 공정의 적용으로 인해 Patterning 및 Deposition장비 수요 증가

  • TSMC 2014년 FinFET구조 도입, 삼성전자 2015년 도입

  • 현재 FinFET 이후 공정공급이 가능한 파운더리는 4개사(TSMC, 삼성전자, SMIC, 글로벌파운더리)

  • 생산이 가능한 업체는 Intel, TSMC, 삼성전자

GAAFET

  • FinFET구조에서도 소자의 미세화가 계속되면서 구조의 한계가 드러남

  • 5nm수준에 이르자 SCE 허용범위 넘어섬

  • Fin의 종횡비(Aspect Ratio)가 증가하면서 저항 증가

  • 그 이후 등장한게 GAA(Gate All Around)

  • GAA는 Gate가 채널의 4면을 둘러싸고 있기에 Gate의 통제력을 한층 더 높일 수 있음

  • Si/Sige Sheet Epitaxy 수요 증가

  • Sige에 대한 고선택비 Selective Etching 장비 수요 증가

  • ALD 공정 수요 증가

  • TSMC는 24년말부터 GAA기반 N2 양산 투입 계획

  • 22년말 N3 웨이퍼 투입(주요 고객사, 애플과 인텔)

  • N2 주요 고객사는 애플 아이폰 16향 AP

  • 삼성전자 22년 하반기부터 GAA기반 3nm 양산 시작

  • 인텔은 24년 상반기부터 2nm RibbongFET 공정 적용(MBCFET 유사구조)

트랜지스터 구조 FinFET -> GAAFET

  • 전반적인 공정 Step수 증가

  • 뚜렷하게 증가하는 공정은 ALD, Etching, Epitaxy

  • 속도가 중요한 LOGIC에는 Epitaxy를 통해 결정질 Si의 적층이 필수

  • ALD 수요 증가 : GAA구조에서는 Nano Wire 표면에 High-K 유전막 증착뿐만아니라 Metal Gate 물질 증착을 위해서라도 Step Coverage가 높은 ALD 필수

Selective Etching 수요 증가

  • Wet Etching : 염산(HCI)를 이용하거나 HF/H2O2/H2O 희석액을 이용한 습식식각 유력

  • HF, H2O2는 솔브레인과 한솔케미칼 수혜 기대

  • Dry Etching : Sige과 Si층을 O2플라즈마로 산화시킨다음 SigeO만 에칭하고 다시 Sige를 산화시키고 식각하기를 반복하는 방식

  • 관련 장비는 램리서치와 어플라이드머트리얼즈 위주로 공급될 예정

EUV 관련 밸류체인

  • 파운드리 업체들의 본격적인 EUV 기반 생산경쟁은 1년도 남지 않음

  • 에스엔에스텍(블랭크마스크, 펠리클)

  • 에프에스티(펠리클)

  • 파크시스템스(AFM 장비)

3D DRAM

  • 3D DRAM의 경우 적층의 방식이 Si/SiGe Epitaxy를 이용한 단결정 적층방식이 될 가능성이 높음

  • HF/H2O2/CH3COOH를 이용한 습식 식각박싱이 유력

  • HF, H2O2는 솔브레인과 한솔케미칼 주력 사업분야

DRAM

  • DRAM(Dynamic Random Access Memory) : 임의적으로 접근이 가능하다는 의미로 원하는 위치에서 원하는 데이터를 바로 읽거나 쓸 수 있다는 의미

  • DRAM과 SRAM으로 분류되지만 속도는 SRAM이 빠르고 단가가 비싸서 CPU, AP 캐시메모리 위주로 사용

  • 일반적인 PC에서는 DRAM이 대중적으로 사용

  • Capacitance는 CAP의 면적과 유전율에 비례, 두께 반비례

  • 과거 DRAM업체들이 STACK(쌓기)과 TRENCH(파기)의 기로에서 유럽은 TRENCH, 일본과 삼성은 STACK방식 채택

  • MESH(Mechanically Enhanced Storage node for virtually unlimited Height): Capacitor의 Apspect Ratio로 인한 쓰러짐을 방지하기 위한 지지대를 형성하는 공정

  • 최신 DRAM에서는 Mesh ring이 최소 3개 Layer 사용

  • 유전율이 크면서 누설전류를 억제할 수 있는 물질을 찾는 것이 앞으로 DRAM 성능을 개성할 수 있는 소재의 핵심요소

  • 4F2 DRAM : 현재 DRAM Cell Transistor, Source, Gate, Drain이 가로로 배치된 구조를 세로로 배치해 전체면적을 1/4가까이 줄이는 방식

  • 3D DRAM : 25년 이후에 Gate를 수직으로 적층하고, Capacitor를 횡방향으로 나열하는 3D DRAM에 대한 논의가 학계와 산업계에서 진행중

  • 글로벌 장비사들의 제시하는 차세대 DRAM도 3D DRAM

  • Si/Sige 장비의 경우 어플라이드 머트리얼즈와 ASMI가 독점

  • 국내는 유진테크, 주성엔지니어링 장비 보유하고있느나 양산 한계

  • 3D DRAM에서 Capacitor의 유전체 증착을 위한 ALD 수요 증가(원익IPS, 유진테크, 주성엔지니어링 등)

  • DRAM Capacitor 소재 벨류체인 Zr(지르코늄)

  • 일본 Adeka, SK트리켐, 메카로, 디엔에프, 레이크머트리얼즈

  • HKMG의 사용되는 Gate Oxide는 주로 HfO2(하프늄 옥사이드) 사용하기에 HF프리커서와 ALD 장비 필요

  • Logic반도체에서 50년의 반도체 역사상 두번째로 진행되는 MOSFET 구조 변화 임박

  • 박막 증착 이후, SiGe(실리콘저마늄)를 선택적으로 제거하는 공정 추가

  • EUV는 Stepper 뿐만 아니라 PhotoResist, Photomask, Pelicle, Inspection 등 기존과 다른 전반적인 생태계를 조성하는 분야

  • 3D Dram의 횡방향 Capacitor 표면의 유전체 증착을 위한 ALD 수요 또한 증가

  • 다음편 계속

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